產品詳細說明
美國SCS Ionograph BT LP型離子污染動態測試儀
Ionograph BT LP是Ionograph BT Series 離子污染測試系統三款桌上型中大測試槽（35.3 x 50.8 x 6.4 cm）的一款離子污染測試儀?？捎糜谳^大組件或超大樣品的測試。
離子污染：
離子污染的存在會對使用電子電路的設備的性能和使用壽命產業不利的影響。殘留的離子污染會導致絕緣表面的腐蝕和電流泄露。當在正常環境中暴露于濕度時，電路和組件劣化的速度顯著增加。
離子殘留物來自化學加工和電子制造過程中的各種來源。 典型污染源包括：
金屬清潔劑
化學蝕刻劑
電鍍化學品
助焊劑
加工設備
清洗線
環境（灰塵、二氧化碳）
汗液
特別是微電子污染，即使是人類噴嚏中的痕量離子殘留物也會導致災難性失敗。所以消除電子電路和組件上的離子殘留量可以使產品達到預期的性能和降低產品的可靠性風險?，F在已經有很多關于離子污染的工業規范盒軍事規范被廣泛用于產品生產的質量控制。
Ionograph BT Series 離子污染測試系統可以簡單，準確的測量殘留的離子。對于裸板、組裝板、無源元件和微電子部件的殘留離子進行簡單準確的測量。適用于任何生產商或第三方檢測實驗室。
SCS Ionograph BT Series: LP (Large Parts)
測試槽尺寸(W x H x D)：35.3 x 50.8 x 6.4 厘米
測試液容量：15.0 升
尺寸(W x H x D)：38.7 x 68.6 x 41.3 厘米
重量：35.4 千克
電源：230 伏交流電, 50 赫茲, 0.5 安培
上海益朗儀器有限公司銷售美國SCS離子污染測試儀及相關配件耗材：
Omegameter 650 SMD型離子污染靜態測試儀
Ionograph SMD V型離子污染動態測試儀（落地型、有加熱和基線穩定系統）
Ionograph BT LP型離子污染動態測試儀（桌上型，大測試槽）
Ionograph BT MP型離子污染動態測試儀（桌上型，中測試槽）
Ionograph BT SP型離子污染動態測試儀（桌上型，小測試槽）
以上為最新型號離子污染測試儀，關于老款型號的離子污染測試儀的維修及配件耗材需求請聯系上海益朗儀器有限公司。
您還沒有登錄，請登錄后查看聯系方式
發布供求信息
推廣企業產品
建立企業商鋪
在線洽談生意
會員中心
