系統概述

西安易恩電氣 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半導體晶體管圖示系統，本系統可自動生成功率器件的I-V曲線，也可根據客戶的實際需求設置功能測試，直接讀取數顯結果。系統在失效分析，IQC來料檢驗及高校實驗室等部門有廣泛的應用。系統生成的曲線都使用ATE系統逐點建立，保證了數據的準確可靠。系統典型的測試時間是6 to 20ms,通常上百個數據點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現出來，數據捕獲的曲線可導入EXCEL等格式進一步分析研究，是一款高效多功能的高端半導體測試設備。

本系統使用方便，只需要通過USB或者RS232與電腦連接，通過電腦中友好的人機界面操作，即可完成測試。并可以實現測試數據以EXCEL和WORD的格式保存。系統提供過電保護功能，門極過電保護適配器提供了廣泛的診斷測試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。對診斷設備狀態和測試結果提供了可靠地保證。

系統軟件支持

器件測試程序的生成是通過在一臺運行系統為Windows或WindowsNT的PC機上USB接口程序實現的。該程序提供快速的器件測試程序生成，具有全屏顯示和增強型編輯幫助。

一種填空式編程方法向用戶提供簡明、直觀的使用環境。操作人員只需在提示下，輸入所選器件系列名稱和測試類型，并選擇所需測試的參數，而不必具有專業計算機編程語言知識。完成一個器件的測試程序編制只需幾分鐘的時間，非常快捷方便。

概述

EN-2005C測試系統通過PC機對其內部功率源、測試施加條件、測試具體線路進行控制，達到對器件進行測試的目的。在一定的測試條件下，這些源與條件負載按照條件準確的連接，其中包含了大量的負載、轉換功率源和所要求的外部測試線路。

測試系統特點

IV曲線顯示/局部放大，程序保護電流/電壓,以防損壞，品種繁多的曲線，可編程的數據點對應，增加線性或對數，可編程延遲時間可減少器件發熱，保存和重新導入入口程序，保存和導入之前捕獲圖象，曲線數據直接導入到EXCEL，曲線程序和數據自動存入EXCEL，程序保護電流/電壓,以防損壞，測試范圍廣（19總大類，27分類）

系統規格及技術指標                                                          

主極電壓：     1mV-2000V

電壓分辨率：   1mV

主極電流：     0.1nA-50A

擴展電流：     100A

電流分辨率：   0.1nA

測試精度：     0.2%+2LSB

測試速度：     0.5mS/參數

工作溫度：     25℃--40℃

工作濕度：     45%--80%

貯存濕度：     10%--90%

工作電壓：     200v--240v

電源頻率：     47HZ--63HZ

通信接口：     RS232 USB

系統功耗：     <150w

設備尺寸：     450mm×570mm×280mm

質    量：     35KG

測試范圍

二極管DIODE，晶體管（NPN型/PNP型），J型場效應管J-FET，MOS場效應管  MOS-FET雙向可控硅TRIAC，可控硅SCR，絕緣柵雙極大功率晶體管IGBT，硅觸發可控硅STS

達林頓陣列DARLINTON，光電耦合OPTO-COUPLER，繼電器RELAY，穩壓、齊納二極管ZENER三端穩壓器REGULATOR，光電開關OPTO-SWITCH，光電邏輯OPTO-LOGIC，金屬氧化物壓變電阻MOV，固態過壓保護器SSOVP，壓變電阻VARISTOR，雙向觸發二極管DIAC